JPS-9030型X射線光電子能譜儀
X射線光電子能譜儀用于樣品表層元素及價態(tài)分析、深度分析、UPS紫外光電子能譜結(jié)構(gòu)分析等
- 型號： JPS-9030
X射線光電子能譜儀
型號：JPS-9030
品牌：日本電子
產(chǎn)地：日本
制造商：日本電子
X 射線光電子能譜（XPS）是材料科學(xué)和發(fā)展的領(lǐng)域中最廣泛使用的表面分析技術(shù)。其原理是利用X射線束（一般會使鋁陽極或鎂陽極）作為入射源，照射在樣品表面導(dǎo)致讓光電子從原子的核心層被激發(fā)出。根據(jù)測得的光電子所發(fā)出的電子動能，再依照能量守恒定律就可以知道電子的結(jié)合能，從而也就可知道樣品表面是何物質(zhì)。
功能用途：樣品表層元素及價態(tài)分析、深度分析、UPS紫外光電子能譜結(jié)構(gòu)分析等
技術(shù)特點：具有多種非單色化及單色化的X射線源，大功率羅蘭圓提供更高的分析及能量分辨率，兼具Ar離子或Ar原子團(tuán)簇模式刻蝕及紫外光電子能譜（UPS）測試等可選附件。